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      高性能设计技术成都研讨会邀请函

      来源:一博科技     时间:2014-6-27
      一博全国巡讲技术研讨会-成都站

      会议日程安排

      2014-7-18高性能电路设计、制造、贴装、测试一站式解决方案
      9:30-10:00来宾签到,领取资料
      10:00-10:45信号完整性仿真测试暨高性能电路设计
      10:45-12:00高速电路测试方法以及仿真测试联合分析
      12:00-14:00午餐(免费)、抽奖互动、漫谈西部高速设计的现状与未来
      14:00-15:00Cadence DDR4解决方案
      15:00-16:00阻抗控制从入门到进阶
      16:00-16:30总结,问题答疑,抽奖环节

      会议报名方式

      联系人宋健 15828312873
      联系方式TEL: 028-83208088   E-mail: Sjian@pcbdoc.com   MSN: sjian@pcbdoc.com
      备注:本活动报名截止日期为7月15日,请有意向参加研讨会的朋友于7月15日前将报名信息反馈至一博工作人员。

      话题摘要

      1. 信号完整性仿真测试暨高性能电路设计
      从高性能产品的设计到最终调试成功,中间的环节缺一不可。一博本着自身和众多主流客户的合作经验,从PCB设计、仿真、制板、贴片加工到后期的测试调试每个环节的把握,分享每个阶段的注意事项和成功经验,让客户享受一场实用技术的盛宴。
      2.高速电路测试方法以及测试联合分析
      在各种客户的调试反馈中,我们遇到各种各样的测试问题,有产品本身的问题,也有信号完整性的问题,有硬件原理问题,也有测试本身出错的问题,大家普遍关心的DDR3、电源噪声以及高速串行信号如PCIE等到底要如何测试才能满足要求,在本话题里我们会毫无保留一一向您道明。
      3.Cadence DDR4 解决方案
      在DDR4时代已经到来,您准备好了吗?本话题一博联合Cadence公司就针对DDR4的设计带来了新的解决方案,赶紧跟上我们的脚步,来看看DDR4的解决方案能为您带来什么便利吧!
      4.阻抗控制从入门到进阶
      阻抗是信号完整性最基本的话题,本话题主要关注在设计中如何对阻抗进行控制到什么情况下什么时候需要特别进行阻抗控制,简单的话题,不一样的着重点,让您重新认识阻抗控制,从而避免在设计中的一些常见错误。
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